PATlink系列是真理光學基于粒度表征技術及自動化過程控制技術開發的新一代全實時在線粒度監測與控制系統，該系列產品包括了PATlink 1000和PATlink 3000兩個型號，都可以同時滿足干法和濕法的生產工藝過程，既可用于在線粒度測量，也可以用于線上和現場的粒度分析。
PATlink系列在線粒度儀具有堅固的架構和先進的技術支撐，以滿足苛刻及復雜的過程工藝環境對連續粒度測量和控制的要求，被廣泛應用于電池材料、制藥、食品、涂料、水泥、染料、金屬粉末、礦物和調色劑等行業的工藝過程環境。
PATlink系列在線粒度儀采用光纜連接控制室的計算機和粒度檢測系統及控制單元，具有極強的抗干擾能力，并實現遠距離的數據傳輸和控制。嵌入式仿真控制程序模塊和界面，使所有閥門和氣流狀態一目了然。
最高每秒5次的完整的粒度分布數據可通過滿足ModbusRTU/TCP等標準工業通信控制協議的接口實時輸送至用戶的PLC系統，任何時刻的粒度指標的偏離都可觸發對生產設備的自動調整和控制，確保產品顆粒粒度持續滿足用戶設定的指標要求。
技術特點：
◆獨一無二的超大角光學系統，保證了亞微米粒徑測量的準確可靠
◆獨一無二的超大角光學系統，保證了亞微米粒徑測量的準確可靠
◆獨創的光學玻璃液體鞘流保護技術
◆首創的一機多線方案：一臺主機可監測多條生產線
◆首創的一機多用方案：既可在線測量（On-line），又可旁線測量（At-line）
◆采用光纖偏振保持及空間濾波專利技術，確保光路系統及激光輸出無需任何機械調整
◆滿足EMC工業級電磁兼容性要求
◆采用光纜連接控制室的計算機和粒度檢測系統及控制界面，具有極強的抗干擾能力，并實現遠距離的數據傳輸
和控制
◆支持ModbusRTU/TCP等工業控制通訊協議，連接客戶PLC系統
◆CE認證
受益于PATlink1000在線粒度儀的使用
◆閉環的過程優化及持續監測和控制
◆確保生產設備運行更接近目標值
◆減少不同批次產品間的差異
◆批量生產時開機后快速達到合格標準
◆減少原料浪費和返工
技術特點：
> 粒度測控范圍：0.1μm–1000μm，無需變換透鏡
> 測量速度：最快每秒5次完整粒度分布，每分鐘能測量多達數百萬個顆粒
> 超大角光學系統，確保亞微米粒徑準確可靠測量
> 獨創的液體鞘流法窗口玻璃保護技術
> 雙氣簾干法窗口玻璃保護技術
> 一機多線多用方案，一臺主機監測多條生產線，既可在線測量(On-line)又可旁線測量(At-line)
> 采用光纖偏振保持及空間濾波專利技術，確保光路系統在使用過程中無需任何機械調整
> 滿足EMC工業級電磁兼容性要求
> 防水防塵性能達到IP65工業防護等級
> 采用光纜連接控制室和粒度檢測系統的計算機，具有極強的抗干擾能力，并實現遠至千米的數據傳輸和控制
> 支持Modbus RTU/TCP等工業控制通訊協議，連接客戶PLC系統
> CE認證
受益于PATlink1000在線粒度儀的使用
> 無需人工從車間取樣，到實驗室完成樣品測量，在粉體生產加工的全過程都可以實時了解當前以及回溯粉體粒度大小的變化趨勢
> 閉環的過程優化及持續監測和控制
> 確保生產設備運行符合目標值
> 減少不同批次產品間的差異
> 批量生產時開機后快速達到合格標準，減少原料浪費和返工和返工
注：* 文中關聯之專利技術為我司應產品性能需要使用不限于下述部分或全部專利技術，最終解釋權歸真理光學所有。真理光學為ZL201720195784.7/ZL201720374474.1/ZL201720189750.7/ZL201621332818.4/ZL201810552388.4/ZL201921219223.1/ZL201911071791.6/ZL202121718637.6/ZL202122186274.2專利權持有人。
